预防性试验合格的耦合电容器为什么会在运行中发生爆炸？

来源：武汉国试

从耦合电容器的结构可知，整台耦合电容器是由100个左右的单元件串联后组成的。就电容量而言，其变化增加或者减少10%，即在100个单元件中如果有10个以下的元件发生短路损坏，并且还是在允许范围之内。此时，另外90多个单元件电容就要承担较高的运行电压，这对运行中的耦合电容器的绝缘造成了极大地危害。

耦合电容损坏事故多数是由于在出厂时就带有一定的先天缺陷。有的厂家对电容芯子烘干不好，留有水分较多，或元件卷制后没有及时转入压装，造成元件在空气中的滞留时间太长，另外，还有在卷制中碰破电容器纸等。个别电容器由于胶圈密封不严，进入水分。此时一部分水分沉积在电容器底部，另一部分水分在交流电场作用下将悬浮在油层的表面，此时若顶部单元件电容器有气隙，它最容易吸收水分，又由于顶部电容器的电场强度较高，这部分电容器最易损坏。对损坏的电容器解体后分析得知，电容器表面已经形成水膜。由于表面存在杂质，使得水膜迅速电离而导电，引起了电容量的漂移，介电强度、电晕电压和绝缘电阻降低，损耗增大，从而使电容器发热，最后造成了电容器的失效。所以每年的预防性试验测量绝缘电阻、介质损耗因数并计算出电容量是十分必要的。即使绝缘电阻、介质损耗因数和电容量都在合格范围内，当单元件电容器有少量损坏时，还不能及早发现电容器内部存在的严重缺陷。

电容器的击穿往往是与电场的不均匀联系的，在很大程度上取决于宏观结构和工艺条件，而电容器的击穿就发生在这些弱点处。电容器内部无论是先天性缺陷还是在运行中受潮，都首先早层部分电容器损坏，运行电压将被万豪 电容器重新分配，此时每个单元件上的电压较正常时偏高，从而导致万豪的电容器继续损坏，最后导致电容器击穿。

为减少耦合电容器的爆炸事故发生，对运行中的耦合电容器应连续监测或带电测量电容电流，并分析电容量的变化。

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